EN 60749-17-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐射
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时间:2024-05-11 04:25:22
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part17:Neutronirradiation(IEC60749-17:2003);GermanversionEN60749-17:2003
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐射
【标准号】:EN60749-17-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-09
【实施或试行日期】:2003-09-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电学测量;集成电路;气候;中子射线;破坏试验;环境试验;气候试验;电子工程;元部件;机械试验;试验;电子设备及元件;半导体;半导体器件;电气工程;辐照效应
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Destructivetesting;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Neutronradiation;Radiationeffects;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐射
【标准号】:EN60749-17-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-09
【实施或试行日期】:2003-09-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电学测量;集成电路;气候;中子射线;破坏试验;环境试验;气候试验;电子工程;元部件;机械试验;试验;电子设备及元件;半导体;半导体器件;电气工程;辐照效应
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Destructivetesting;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Neutronradiation;Radiationeffects;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:英语
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