NF C96-022-29-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第29部分:闭锁试验
作者:标准资料网
时间:2024-05-10 16:46:32
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part29:latch-uptest.
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第29部分:闭锁试验
【标准号】:NFC96-022-29-2004
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2004-04-01
【实施或试行日期】:2004-04-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:尺寸;环境试验;上锁;多语种的;术语;电子工程;电子设备及元件;定义;电气工程;集成电路;试验;半导体器件;压电器件;耐力;试验装置;组件;介质;压电的;半导体;机械试验;频率稳定;气候试验;谐振器;介电性能;电学测量;过电压试验
【英文主题词】:Climatictests;Components;Definition;Definitions;Dielectric;Dielectricproperties;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Frequencystabilization;Integratedcircuits;Latch-up;Mechanicaltesting;Multilingual;Overvoltagetests;Piezoelectric;Piezoelectricdevices;Resistance;Resonators;Semiconductordevices;Semiconductors;Terminology;Testing;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:22P.;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第29部分:闭锁试验
【标准号】:NFC96-022-29-2004
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2004-04-01
【实施或试行日期】:2004-04-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:尺寸;环境试验;上锁;多语种的;术语;电子工程;电子设备及元件;定义;电气工程;集成电路;试验;半导体器件;压电器件;耐力;试验装置;组件;介质;压电的;半导体;机械试验;频率稳定;气候试验;谐振器;介电性能;电学测量;过电压试验
【英文主题词】:Climatictests;Components;Definition;Definitions;Dielectric;Dielectricproperties;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Frequencystabilization;Integratedcircuits;Latch-up;Mechanicaltesting;Multilingual;Overvoltagetests;Piezoelectric;Piezoelectricdevices;Resistance;Resonators;Semiconductordevices;Semiconductors;Terminology;Testing;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:22P.;A4
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