SJ 20758-1999 半导体集成电路CMOS门阵列器件规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 00:48:13   浏览:9352   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:半导体集成电路CMOS门阵列器件规范
英文名称:Semiconductor integrated circuits-Specification for CMOS gate array devices
中标分类:
发布部门:中华人民共和国信息产业部
发布日期:1999-11-10
实施日期:1999-12-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
归口单位:中国电子技术标准化研究所
起草单位:电子工业部第四十七研究所
起草人:毕思庆、王连友
出版社:电子工业出版社
出版日期:1999-11-01
页数:19页
适用范围

本规范规定了半导体集成电路CMOS型门阵列器件(以下简称器件)的详细要求。本规范适用于器件的研制生产和采购。

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【英文标准名称】:Textiles.Dry-cleaningandfinishing.Part1:methodforassessingthecleanabilityoftextilesandgarments.
【原文标准名称】:纺织品.干洗和整理.第1部分:除尘度的评定方法
【标准号】:NFG07-138-1-1998
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:1998-12-01
【实施或试行日期】:1998-12-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:特性;试验报告;尺寸稳定性;溶剂;布;性能试验;保用期服务;评定;试验;四氯乙烯;耐力;定义;定义;尺寸稳定性试验;操作;纺织试验;服饰;尺寸变化;化学清洗;清洁机;商业的;纺织材料;出院后医护;衣服;干洗
【英文主题词】:Aftercare;Bushings;Chemicalcleaning;Cleaning;Cleaningequipment;Cleaningmachines;Cloth;Clothing;Commercial;Definitions;Dimensionalchanges;Dimensionalstability;Dimensionalstabilitytests(textiles);Drycleaning;Evaluations;Machines;Measurement;Measuringsamples;Measuringtechniques;Operation;Performancetests;Properties;Resistance;Solvents;Testreports;Testresults;Testing;Tetrachloroethylene;Textiletesting;Textiles
【摘要】:
【中国标准分类号】:W04
【国际标准分类号】:59_080_30
【页数】:14P.;A4
【正文语种】:其他